场发射透射电镜（TEM）
预约须知：
1、为保证服务质量，请扫码加灯塔客服为您分配技术团队，该项目平均周期3-7个工作日，具体周期请咨询相应实验工程师。
2、粉体、液体均测试，粉体样品5mg以上，磁性样品一般不允许自己制样;液体1ml以上;薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
3、样品的厚度尽量不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当进行研磨；
4、一般制样选普通铜网或微栅铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；若样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；
5、平台对于强磁与弱磁的定义：含铁、钴、镍、锰等磁性元素均为磁性样品，磁铁吸起来的为强磁，磁铁吸不起来为弱磁。在这里仅作做简单区分，不考虑样品在电镜里束流下的状态。
1、为保证服务质量，请扫码加灯塔客服为您分配技术团队，该项目平均周期3-7个工作日，具体周期请咨询相应实验工程师。
2、粉体、液体均测试，粉体样品5mg以上，磁性样品一般不允许自己制样;液体1ml以上;薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
3、样品的厚度尽量不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当进行研磨；
4、一般制样选普通铜网或微栅铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；若样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；
5、平台对于强磁与弱磁的定义：含铁、钴、镍、锰等磁性元素均为磁性样品，磁铁吸起来的为强磁，磁铁吸不起来为弱磁。在这里仅作做简单区分，不考虑样品在电镜里束流下的状态。
仪器详情
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- 1、仪器名称：（透射电子显微镜）
- 2、仪器型号：FEI Tecnai F20, TF30，JEOL JEM 2100F，FEI Talos F200X等
- 3、仪器用途：透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。
测试结果示例
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1、TEM形貌的测试参数解读如下图所示：
2、 TEM-EDS能谱测试参数解读如图所示：
点扫
线扫
面扫
常见测试问题
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1. 一个样品会拍摄多少张照片？
每样品会提供10-15张照片，具体拍摄情况会根据您的拍摄要求和实际样品形貌而定。
2. JPG、TIFF、DM3的区别
JPG和TIFF均是图片格式，可以直接打开； DM3是源文件，需用DM软件打开
3. 关于铜网的选择？
- 一般普通形貌样品用铜网，高分辨用超薄碳膜或者微栅；
- 样品为片状，或者大于几十纳米，看高分辨可以用微栅（微栅没有衬底，中间是空心）；
- 样品若小于10nm不建议用微栅，因为会捞不上样品；
- 量子点或小颗粒10nm，只能用超薄碳膜，相对衬度不是很好；mapping要做C元素，用微栅，要求片状样品刚好在铜网孔的中间，在孔边缘也是会有碳膜存在，因为微栅骨架上也有碳膜在；
铜网，超薄碳膜，微栅都是有Cu元素，如果做mapping，样品刚好在骨架上，就会扫到做Cu元素，一般用钼网代替，但普通钼网做高分辨效果不好。
